谷歌安卓17收紧锁屏PIN试错，5年内最多19次猜测

IT之家 7 月 2 日消息，谷歌安卓社区互动经理米沙尔 · 拉赫曼（Mishaal Rahman）于昨日（7 月 1 日）在 X 平台发布系列推文，安卓详细披露了安卓 17 系统中锁屏 PIN 验证机制的收紧锁屏N试重大调整。此次更新旨在通过严格限制猜测次数并延长错误等待时间，错年猜测显著提升抵御暴力破解攻击的内最安全门槛。

据消息源透露，多次从安卓 16 QPR2 版本开始逐步引入的谷歌安卓 17 系统，在支持设备上对 PIN 码或密码的安卓尝试次数进行了大幅缩减。系统不仅在单次尝试间隔中增加了更长的收紧锁屏N试延迟，还引入了全局累计限制，错年猜测从而极大增加了不法分子窃取数据的内最难度。

IT之家根据推文内容整理了对比数据，多次直观展示了安卓 16 与安卓 17 在安全策略上的谷歌显著差异：

值得注意的是，在安卓 17 中，安卓当累计错误尝试达到第 20 次时，收紧锁屏N试系统将彻底锁定输入功能，不再接受后续的解锁尝试。只有用户通过正确输入 PIN 码或密码成功解锁设备后，系统才会重置累计猜测计数器。

此外，安卓 17 还引入了智能重复猜测检测机制。如果用户多次重复输入相同的错误 PIN 码，系统会将这些重复的错误记录存入内存，且不再将其计入有效的尝试次数中。这一优化旨在防止攻击者通过循环测试特定号码来绕过频率限制。

(责任编辑：时尚)